熱門搜尋 :
2014-10-06
工程師了解位元錯誤率-訊噪比(BER-SNR)的相關性，就能夠透過甚高頻(Very High Frequency, VHF)接收器測試相鄰頻道拒斥力(Adjacent-channel Rejection, ACR)。將任何一種設備的元件測試從工作台移到生產線自動測試設備的過程中，會面臨許多挑戰；而將高速射頻(RF)設備的測試轉至生產環境中則更加困難。為了讓VHF射頻接收器在生產環境內更易於測試，工程師可以使用一種與位元錯誤率及訊噪比相關的ACR技術，它是專為自動測試設備而開發，可大幅減少測試時間和記憶體需求，同時提供極可靠的測試結果。
Featured Videos
Upcoming Events
Hot Keywords
本站使用cookie及相關技術分析來改善使用者體驗。瞭解更多