2014-03-03

對行動終端設備全部生產時間而言，測試時間是一項重要因素，因此業者不斷尋求方法減少測試時間及相關成本，而採用「非信令」測試法將可獲致重大進步，因為毋須運用專屬模式與通訊協定於測試晶片組，現在主要目標在於同時測試多個待測物(DUT)。本文將說明各種不同狀況的多待測物，包括各種設備配置、無線射頻(RF)路由與測試控制方案及其有關設計考慮與策略，並提出現成並行多DUT測試方案，以便大幅提升測試設備利用率。

2014-02-25

終端產品設備商考量並行多DUT測試，必須選用足夠彈性的測試平台架構，目前市場中已推出各種射頻調控解決方案，以滿足並行多DUT不同狀況的需求，進而協助工程師有效率地進行系統測試。

2011-05-05

無線晶片的非信令測試模式發展提升測試工程師對非信令測試的能力，其中非信令測試與快速序列非信令測試堪稱兩大重要技術，過去非信令測試技術僅晶片商採用，但隨著晶片業者了解非信令測試的優勢後，也希望終端設備業者能夠採用相同的測試技術，這是由於非信令測試功能的演進與改變，可讓測試工程師在測試整合至手機的晶片組時更省時且更省成本。