美商國家儀器(NI)將於4月10日研討會中介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統，讓R&D端與產線端可使用相同的測試系統，以大幅減少測試成本，並藉由PXI平台同步測試的優勢來提升測試速度，同時分享如何用PXI平台進行多種無線通訊協定的混合測試。
美商國家儀器(NI)將於4月10日研討會中介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統，讓R&D端與產線端可使用相同的測試系統，以大幅減少測試成本，並藉由PXI平台同步測試的優勢來提升測試速度，同時分享如何用PXI平台進行多種無線通訊協定的混合測試。
根據經濟部統計，2011年半導體產值已超過1.5兆台幣，加上新製程及積體電路(IC)技術不斷推進，半導體廠商每年需投入高達10%的總體營收在設備上，伴隨著2012年近期景氣愈趨明朗，產線滿載的情形下，「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求，這些無疑都是即將要面臨的挑戰。
若將產品的測試流程放大來看，R&D進行工程驗證與測試階段(EVT)、設計驗證與測試階段(DVT)，進而再交由產線進行生產驗證測試階段(PVT)，若R&D和產線使用的測試設備不同，除了增加實質的測試成本，也增加了雙方溝通的時間成本；一般統計若R&D與測試端採用相同的測試設備，將可縮減一半的資金成本，且整體時間支出也將縮短2.5倍以上。
美商國家儀器網址：www.ni.com