AMMP SiO2 ALE

科林研發Flex介電質蝕刻系統具備介電質原子層蝕刻功能

2016-09-21
科林研發(Lam Research)宣布,已在其Flex介電質蝕刻系統中增加了原子層蝕刻(ALE)功能,以擴展ALE技術的產品組合。運用科林研發的先進混合模式脈衝(AMMP)技術,新的ALE製程展現出原子級的控制能力,可克服邏輯元件微縮至10奈米以下時面對的重要挑戰。
科林研發(Lam Research)宣布,已在其Flex介電質蝕刻系統中增加了原子層蝕刻(ALE)功能,以擴展ALE技術的產品組合。運用科林研發的先進混合模式脈衝(AMMP)技術,新的ALE製程展現出原子級的控制能力,可克服邏輯元件微縮至10奈米以下時面對的重要挑戰。

科林研發蝕刻產品部門副總裁Vahid Vahedi表示,從電晶體和接點建立(Contact Creation)到連線圖樣(Interconnect Patterning),邏輯製造商需要全新等級的精密度才能持續微縮到10奈米以下的製程節點。對自動對準接點(Self-aligned Contact)等這類元件促成關鍵技術(Device-enabling)應用來說,蝕刻有助於建立關鍵結構,但是傳統的技術無法提供符合現在嚴格規範所需的足夠控制能力。

針對下一代的邏輯與晶圓製造應用,科林研發的Flex介電質蝕刻系統可提供業界最先進的電容式耦合電漿(CCP)反應器,它獨特的小容量設計可提供穩定可靠的生產結果。此最新系統採用屬獨家的AMMP技術,以藉此實現二氧化矽(SiO2)等介電質薄膜的ALE製程。與先前的介電質蝕刻技術相比,此功能可提升2倍的選擇性,而且還能提供原子級的控制能力。

科林研發網址:www.lamresearch.com

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