國家儀器(NI)發表NI PXIe-5632 VNA，這款經過最佳化的產品可協助工程師滿足日趨複雜的射頻(RF)測試需求，而且相較於傳統的機架堆疊式解決方案，必要的成本、時間、體積都有所減少。全新的PXIe VNA採用創新的雙源架構，頻率範圍則是300 kHz～8.5GHz，可獨立調整來源且具備來源存取迴路，適用於各式各樣的量測應用。
國家儀器(NI)發表NI PXIe-5632 VNA，這款經過最佳化的產品可協助工程師滿足日趨複雜的射頻(RF)測試需求，而且相較於傳統的機架堆疊式解決方案，必要的成本、時間、體積都有所減少。全新的PXIe VNA採用創新的雙源架構，頻率範圍則是300 kHz～8.5GHz，可獨立調整來源且具備來源存取迴路，適用於各式各樣的量測應用。
國家儀器RF研發副總裁Jin Bains表示，國家儀器持續投資射頻與微波儀器，將 PXI的使用範圍拓展至高階應用，NI PXIe-5632 VNA豐富的功能組合有助於大幅降低網路量測成本，尤其是需要精確量測、高速量測與小型體積的大量自動化測試應用。
本次產品特色包括可以0.01dB為單位設定-30dBm～+15dBm的功率範圍，進而量測運作裝置的壓縮與S參數；雙源架構搭配來源存取迴路，可用於脈衝式S參數量測與更廣的來源功率範圍；頻率偏移功能採用可獨立調整的來源，以便量測頻率轉移裝置與最新的S參數；程式設計介面可用於LabVIEW、ANSI C、NET，簡化設計流程之餘，還可以加快測試開發速度，確保射頻量測品質。
國家儀器網址：ni.com/taiwan