羅德史瓦茲(R&S)ZNB高性能網路分析儀可提供極大動態範圍、高精度、高速及便捷之操作介面，利用單端轉差分之插入損耗(SET2DIL)演算法驗證印刷電路板(PCB)傳輸高速差分訊號品質的最佳工具。
羅德史瓦茲(R&S)ZNB高性能網路分析儀可提供極大動態範圍、高精度、高速及便捷之操作介面，利用單端轉差分之插入損耗(SET2DIL)演算法驗證印刷電路板(PCB)傳輸高速差分訊號品質的最佳工具。
羅德史瓦茲ZNB網路分析儀市場產品銷售經理Jonathan Leitner表示，羅德史瓦茲公司正致力於將SET2DIL演算法整合至ZNB網路分析儀中，屆時將提供大量電路板測試與量產前所未有的量測精準度與測試速度。
羅德史瓦茲網路分析儀ZNB的時域量測功能，結合IPC-TM-650驗證的SET2DIL技術，可直接處理時域反射訊號(TDR)與時域傳輸訊號(TDT)，並計算插入損耗。介質與導體的損耗所導致的訊號衰減與失真是高速訊號傳輸線模擬與設計的重點，在高達數10GHz時的插入損耗必須被正確地建模，並藉由量測進行驗證，以確保模擬的正確性。
最新的SET2DIL演算法是一種將兩埠時域量測結果轉換成四埠頻域參數SDD21的方法，這樣的方法只需要使用雙埠網路分析儀在單一測試點進行單端時域反射與傳輸量測，搭配ZNB網路分析儀，將可取代目前需要量測兩個測試點的四埠量測，符合實驗室測試環境的需求，這樣的技術更便於直接量測SDD21，增加多數的使用者在大量量產的接受度。
羅德史瓦茲網址：www.rohde-schwarz.com