IPFA TEM MA

宜特TEM材料分析技術達5奈米

2016-06-27
隨半導體產業朝更先進製程發展之際,宜特(iST)材料分析(Material Analysis, MA)檢測技術再突破。宜特宣布TEM材料分析通過國際級客戶肯定,驗證技術達5奈米製程。
隨半導體產業朝更先進製程發展之際,宜特(iST)材料分析(Material Analysis, MA)檢測技術再突破。宜特宣布TEM材料分析通過國際級客戶肯定,驗證技術達5奈米製程。

宜特材料分析處處長陳聲宇博士表示,5奈米製程是下一階段各半導體廠商的競逐場,宜特科技則在先進製程演進的過程,扮演最佳幕後推手,提供檢測驗證方案。目前已有國際級半導體客戶,朝5奈米製程邁進,宜特則維持24小時運作不間斷,以高端的設備規格與技術能量,完成客戶驗證分析需求。

宜特觀察發現,近年來,企業為了打造效能更高、功耗更低、體積更小的半導體元件以滿足現今智能產品之需求,各大廠在先進製程開發的腳步越來越快,已從前年20奈米、去年14奈米製程,陸續在今年往10奈米、7奈米製程進行量產準備;而多家半導體大廠,今年更已朝5奈米製程進行研發藍圖,因此帶動整個供應鏈的材料分析需求。

宜特近期不僅協助多間客戶在先進製程產品上完成TEM分析與驗證,其技術能量更深獲IEEE半導體元件故障分析領域權威組織積體電路失效分析論壇(IPFA)肯定,連續數年通過大會審核,於期間發表最新研究成果。

iST網址:www.istgroup.com/

本站使用cookie及相關技術分析來改善使用者體驗。瞭解更多

我知道了!