愛德萬測試推出用於V93000平台的Wave Scale系列通道卡，可提供無線通訊在測試射頻(RF)與混合訊號IC時前所未有的平行度與產能。全新的V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX卡是為了提供高度平行多元件同測及元件內部平行測試所打造，能夠大幅縮減現有RF半導體的測試成本及上市時間，並且為未來5G裝置的測試開創新途。
愛德萬測試推出用於V93000平台的Wave Scale系列通道卡，可提供無線通訊在測試射頻(RF)與混合訊號IC時前所未有的平行度與產能。全新的V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX卡是為了提供高度平行多元件同測及元件內部平行測試所打造，能夠大幅縮減現有RF半導體的測試成本及上市時間，並且為未來5G裝置的測試開創新途。
愛德萬測試產品事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示，Wave Scale能讓該公司的客戶跟上未來半導體越來越快的技術變化。使用Wave Scale，現行及次世代元件的測試都會更有效率且更具成本效益，也會加快上市時間。
全新的通道卡以射頻及無線通訊市場為目標，對於用來發展LTE、LTE-Advanced、LTE-A Pro等智慧型手機，以及LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、藍芽及物聯網應用相關的半導體元件，提供高效率的測試解決方案。
V93000 Wave Scale卡在架構上比現有的市場產品更為先進。傳統的射頻測試解決方案是針對射頻IC執行多元件測試，例如四元件或八元件同測，但是每次只能在每個元件上測試一項射頻標準。Wave Scale RF及相應的Wave Scale MX卡則能夠在每個射頻元件內同時測試多個標準或路徑，藉由達到元件內部的平行度與極高的多元件同測效率，大幅降低了這些複雜射頻裝置的測試成本。
愛德萬測試網址:www.advantest.com。