美商國家儀器(NI)推出半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS)系列。基於PXI架構的自動化測試系統，針對半導體生產測試環境的PXI模組，有助於降低射頻(RF)和混合式訊號裝置的測試成本。相較於傳統的半導體自動化測試設備(ATE)，STS先期使用者都證實STS有助於降低生產成本、提高產能，還可以透過相同的硬體和軟體工具，同時執行特性測試與生產作業。這樣一來即可更快建立資料關聯並縮短上市時間。
美商國家儀器(NI)推出半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS)系列。基於PXI架構的自動化測試系統，針對半導體生產測試環境的PXI模組，有助於降低射頻(RF)和混合式訊號裝置的測試成本。相較於傳統的半導體自動化測試設備(ATE)，STS先期使用者都證實STS有助於降低生產成本、提高產能，還可以透過相同的硬體和軟體工具，同時執行特性測試與生產作業。這樣一來即可更快建立資料關聯並縮短上市時間。
英飛凌科技(Infineon Technologies)車體傳動產品的資深設計與應用工程師Hans-Peter Kreuter解釋，就混合式訊號測試而言，PXI架構的STS效能遠勝過傳統的ATE，能夠以相當低的成本提供最理想的測試範圍。IDT測試總監Glen Peer指出，傳統的ATE系統往往伴隨著高額的測試工具替換成本，而STS的開放式PXI架構卻可保有原本的投資，並且以此為基礎持續擴充，不必淘汰任何設備，此外，高彈性有助於重新設定測試平台並加以擴充，因應不斷成長的效能需求。
STS具有開放式的模組化架構，可協助工程師運用先進的PXI儀器。STS搭載TestStand測試管理軟體和LabVIEW系統設計軟體，針對半導體生產環境提供豐富的功能組合，包含可客製化的操作介面、分類機/針測機整合、裝置為主的程式設計和針腳-通道配置、標準測試資料格式報表製作、整合式多地點支援等等。因此，工程師可迅速開發測試程式、加以除錯並完成布署，縮短整體的上市時間。此外，STS還配備全封閉式的「零占用空間」測試頭、標準銜接與連結機構，可立即整合至半導體生產測試單元。
美商國家儀器網址：www.ni.com