安捷倫4080系列參數測試平台滿足量測需求

4080系列採用的新平台具備更快的CPU及同步/非同步平行測試能力，有助於大幅提升量測速度。該系列是一款可擴充的模組式生產測試平台，可讓客戶輕易增加新的測試能力，如NAND/NOR快閃記憶體儲存單元特性描述和射頻(RF)S參數量測。該系列共推出3種機型，包括4082A參數測試系統，用於通用參數測試；4082F快閃記憶體儲存單元參數測試系統，用於NAND/NOR快閃記憶體測試及4083A DC/RF參數測試系統，可滿足最新RF裝置的高頻量測需求。  

該系列具備同業較佳的效能及技術進展，擁有一顆功能較強的CPU，在不修改程式的情況下，平均可使轉移的4070測試計畫速度提升10～20%。  

執行安捷倫半導體製程評估核心軟體(Semiconductor Process Evaluation Core Software, SPECS)測試環境的4080系列，同時支援同步和非同步平行測試。除同步平行量測外，安捷倫還新推出專屬虛擬多測試頭技術，其可透過先進的非同步平行測試能力完全獨立執行測試，比起傳統的序列式測試方法可減少50%的測試時間。  

4082A參數測試系統是一高速生產測試器，專為從主流製程到45奈米以上先進製程的所有量測需求設計；4082F快閃記憶體儲存單元參數測試系統為解決快閃記憶體儲存單元測試的各種挑戰設計，其包含半導體脈衝產生器單元(SPGU)主機和高電壓SPGU(HV-SPGU)模組。4082F HV-SPGU具備±40伏特輸出，能控制脈衝上升和下降時間，也能準確控制解析度小到2毫安培的脈衝位準。  

4083A DC/RF參數測試系統是第一款在測試頭整合20GHz、8×10 RF矩陣之生產參數測試器。4083A RF矩陣在一次連接中最多可量測5個RF結構，透過這項能力不但加快量測速度，還可因減少接點磨損而延長探測卡的使用壽命。  

安捷倫網址：www.agilent.com