是德(Keysight)日前宣布中國賽寶實驗室(CEPREI Laboratory)採用Keysight EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀(A-LFNA)進行閃變雜訊(1/f雜訊)和隨機電報雜訊(RTN)的量測與分析，以增進半導體元件(包括MOSFET、HEMT和TFT等)可靠性研究。
是德(Keysight)日前宣布中國賽寶實驗室(CEPREI Laboratory)採用Keysight EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀(A-LFNA)進行閃變雜訊(1/f雜訊)和隨機電報雜訊(RTN)的量測與分析，以增進半導體元件(包括MOSFET、HEMT和TFT等)可靠性研究。
賽寶實驗室資深工程師劉遠博士表示，該公司經過全面的技術評估後，選擇了是德科技的E4727A解決方案。其效能確保在低系統雜訊下的精確量測，並且擁有業界最寬的頻率和偏壓量測範圍，可支援該公司各類元件與應用的研究。
Keysight EDA的E4727A高效能型低頻雜訊分析儀可進行快速、準確且可重複的低頻雜訊(LFN)量測。E4727A支援閃變雜訊和隨機電報雜訊的晶圓映射量測和資料分析，並提供可重複和可靠的量測結果，特別適合用於半導體材料和積體電路製程的開發、驗證和監測。
Keysight EEsof EDA 元件建模產品經理馬龍博士表示，該公司很高興賽寶實驗室成為是德低頻雜訊量測系統的另一個新的示範點。低頻雜訊是半導體材料和製程中一個非常敏感且重要的指標，目前已廣泛用於可靠性、新材料和新型元件研究。
是德網址:www.keysight.com/go/news