看準複雜且日新月異的智慧裝置市場，驅動半導體設備商對多重測試的強勁需求，國家儀器(NI)於2016 Semicon Taiwan展期祭出三大半導體測試解決方案，分別為可搭配半導體測試系統(STS)使用的高功率RF模組、ATE等級的PXIe-6570數位波形儀器，以及兼具速度與靈敏度的PXIe-4135電源量測單元(SMU)。
看準複雜且日新月異的智慧裝置市場，驅動半導體設備商對多重測試的強勁需求，國家儀器(NI)於2016 Semicon Taiwan展期祭出三大半導體測試解決方案，分別為可搭配半導體測試系統(STS)使用的高功率RF模組、ATE等級的PXIe-6570數位波形儀器，以及兼具速度與靈敏度的PXIe-4135電源量測單元(SMU)。
隨著整合到RF前端模組的零組件越來越多，市場對高功率RF測試有極大的需求。NI半導體測試系統全新的RF功能在RF盲插狀態時，能夠以+38dBm的速率傳輸，並以+40dBm的速率接收，是目前市場上第一個商用化且不用親自建置高功率模組的唯一解決方案。
為了更完整半導體測試的產品選擇，NI亦推出PXIe-6570數位波形儀器與NI Digital Pattern Editor，將高階數位測試平台才具備的數位測試功能引進到開放式的PXI平台中，讓工程師可妥善運用波形編輯器與除錯工具降低整體的測試成本、提升RF與類比IC的傳輸率，並讓電源管理IC、MEMS裝置與混合訊號IC製造商突破傳統半導體自動化測試設備的封閉架構。
而在半導體的電源量測方面，NI PXIe-4135 SMU具備10fA的高靈敏度與高達200V的電壓輸出，可測試低電流訊號並進行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與各種IC特性測試。
國家儀器網址:taiwan.ni.com