安捷倫(Agilent)宣布旗下最高性能的PNA-X網路分析儀推出源端修正式(Source-corrected)雜訊指數量測選項。將此選項直接內建在Agilent PNA-X中，可為開發和測試最高頻率在26.5GHz以下的低雜訊電晶體、放大器與發射/接收(T/R)模組的研發及生產製造工程師，提供一套完整的單次連接、多次量測解決方案。
安捷倫(Agilent)宣布旗下最高性能的PNA-X網路分析儀推出源端修正式(Source-corrected)雜訊指數量測選項。將此選項直接內建在Agilent PNA-X中，可為開發和測試最高頻率在26.5GHz以下的低雜訊電晶體、放大器與發射/接收(T/R)模組的研發及生產製造工程師，提供一套完整的單次連接、多次量測解決方案。
安捷倫的源端修正式雜訊指數解決方案是依據Agilent 8510網路分析儀首創的整合式向量誤差修正冷源(Vector-error-corrected Cold-source)技術所設計。運用Agilent PNA-X和Agilent Ecal模組(做為阻抗調整器)，可消除系統的源端匹配不完美所造成的影響，大幅提高冷源技術的準確度。
安捷倫PNA-X已成為頻率範圍自10M～26.5GHz之微波網路分析標準，這款二或四埠的網路分析儀原本即可針對雙頻(Two-tone)和脈衝式RF量測，提供一套獨特的單次連接解決方案。整只要透過單次連接即可加快測試設定和產品上市時間、提高生產速度、減少接頭和探棒磨損，以及降低晶圓毀損風險。
安捷倫針對旗下最高性能的PNA-X網路分析儀推出的整合式源端修正式雜訊指數量測選項已正式上市，量測雜訊指數的最低配置需求包含Option 029源端修正式雜訊指數量測選項、衰減器選項(Option 219/419)、N4691B 3.5毫米Ecal模組，以及346系列雜訊源。
安捷倫網址：www.agilent.com.tw