宜特 衛星 立方衛星 測試 飛行履歷 太空產業 第三方實驗室 輻射測試 EMC

COTS逐項通關晉升太空元件 模擬測試應對火箭發射/輻射挑戰(2)

2024-07-01
太空經濟正逐步起飛,而由於正統太空規電子零組件價格高昂且不易取得,採用COTS元件執行太空任務成為熱門趨勢。本文將從火箭發射環境、太空環境,逐一說明COTS欲跨入太空應用將面臨的挑戰和驗證測試方式。
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太空環境對電子零組件的影響

(承前文)衛星在經過火箭發射順利升空、進入軌道後,接下來需要確保衛星在太空環境中能夠正常運行。以下說明針對太空環境影響,需要進行的測試項目。

熱真空循環測試

低軌衛星以每秒七公里的時速飛行,大約九十分鐘繞行地球一圈。衛星繞軌飛行處於真空環境,同時也會面臨溫差挑戰,當衛星被太陽正面照射時,其溫度高達攝氏120度,遠離太陽時,溫度可能低至零下120度。另外,真空環境可能使電子零組件因散熱不良燒毀,真空低壓也會造成零組件材料分解、腔體洩漏(Leak),或是零組件釋氣(Outgassing)產生汙染。

熱真空循環測試(Thermal Vacuum Cycling Test)(圖8)可模擬太空環境的真空狀態與溫度變化,測試時將衛星或電子零組件架設於極低壓力的真空艙內,再經設備以輻射、傳導方式對衛星或電子零組件升降溫以模擬太陽照射,此時衛星或電子零組件處於通電運作狀態,須即時監控觀察其功能是否正常。熱真空循環測試通常為期一週甚至更長,也是衛星或電子零組件常見的失效項目。

圖8 熱真空艙測試 (圖片來源:TriasRnD)

輻射測試

少了大氣層的保護,電子零組件在太空環境將直接面對輻射的衝擊。以地球軌道而言,輻射環境包含輻射帶(Van Allen Belts)、銀河宇宙射線(Galactic Cosmic Rays, GCR)以及太陽高能粒子(Solar Energetic Particles, SEP)(圖9)。這些輻射環境充斥大量的電子、質子,以及少數的重離子(Heavy Ion)等,若擊中衛星的電子零組件,可能造成資料錯亂(Upset)、當機,甚至是永久性故障。衛星在軌道運行壽命短則幾個月,長則數十年,衛星在軌道運行時間越長,受輻射衝擊影響就越大。

圖9 地球軌道輻射環境 (圖片來源:宜特科技繪製)

輻射對電子零組件的影響包括以下三大類(圖10):

圖10 太空輻射對電子零組件的三大效應 (圖片來源:ESA)

總電離劑量效應(Total Ionizing Dose Effect, TID)

電子零組件在太空環境長期累積大量質子與電子輻射,是造成TID效應的主因。TID會使MOS電晶體臨界電壓(Threshold Voltage)緩慢飄移,零件漏電因此逐漸增加,漏電嚴重時則會導致零件燒毀。衛星可視為大型的無線行動裝置,依賴太陽能蓄電,電力相當珍貴,若衛星內諸多電子零件都在漏電,將導致衛星電力不足而失聯或失控。

位移損傷效應(Displacement Damage, DD)

質子對電子零組件會產生另一種非輻射效應,稱為位移損傷效應(DD),屬於長期累積大量質子的物理性損傷。質子會將半導體零件內的矽原子打出晶格外,形成半導體缺陷,零件漏電也會逐漸增加。其中,光電零件對DD效應較為敏感,例如影像感測元件。除了造成影像品質降低,DD也會使衛星使用的太陽能電池(Solar Cell)轉換效率下降。

單一事件效應(Single Event Effect, SEE)

TID與DD可視作慢性病,是電子零組件長期在軌累積大量質子與電子作用所造成的漏電效應;SEE(圖11)則是屬於急性症狀,隨機發生,難以預測。質子與重離子都會造成電子零組件的SEE效應,而重離子比質子更容易引發SEE。太空環境中的重離子數量雖然相對少,但殺傷力強,一顆重離子就可能使電子零組件當機或損壞。

圖11 單一事件效應的各種現象 (圖片來源:宜特科技繪製)

SEE造成的故障可分成Soft Error與Hard Error兩大類。Soft Error的徵狀為資料錯亂、當機、功能異常等,重啟電路即可恢復其運作,不過,若電子零組件對輻射十分敏感,當機頻率過高將影響任務執行,因此需要以輻射測試評估其事件率(Event Rate);Hard Error則是永久性故障,例如重離子容易引發半導體零件栓鎖(Latch-Up)現象,若沒有對應機制,零件可能因大電流而燒毀,因此,SEL(Single Event Latch-Up)是太空電子零件輻射耐受度最重要的指標之一。

太空環境包括具有各種能量的粒子(質子、電子、重離子等),能量越高的粒子可穿透越厚的物質或外殼。低能量的粒子可被衛星外殼(鋁)阻擋,但衛星發射成本以重量計價,外殼厚度相當有限;高能量的粒子則會穿透衛星外殼,影響電子零組件運作。由此可見,用於太空環境的電子零組件必定會被輻射影響,在上太空前必須經過輻射測試評估其特性。COTS電子零組件都具備一定的抗輻射能力,但是必須經過測試,才能了解其輻射耐受度是否能夠滿足太空任務需求。

飛行履歷決定衛星身價

COTS電子零組件上太空前必須經過「發射環境測試」,包括模擬火箭發射時所產生的振動、音震、衝擊、電磁相容性測試,以及太空環境熱真空循環和輻射測試等(更多的測試項目不在此一一細數),通過這些測試後,更重要的是取得「飛行履歷」(Flight Heritage)。產品發射上太空後,若能成功執行各種任務,取得越多飛行履歷,產品的身價就越高。太空產業非常重視飛行履歷,飛行履歷也是產品最佳保證書。

第三方實驗室助攻 電子業者共食太空商機

全球太空經濟預計在2040年突破1兆美元,電子廠商紛紛投入太空市場。面對火箭與太空環境嚴苛的考驗,產品需要在地面模擬測試,以確保可在軌道順利運行。

第三方實驗室將可協助業者滿足太空應用的獨特要求,例如宜特身為太空環境測試第三方實驗室,於2019年與國研院太空中心合作,推動台灣太空產業發展。自2021年加入台灣太空輻射環境驗測聯盟,宜特已完成數十個案例,包含類比、數位、記憶體、射頻等各種電子零組件輻射測試。宜特持續建構更完整的太空環境驗證測試能量,提供一站式服務,透過專業分工,協助國內外業者進行太空環境驗測,使廠商可以更專注在產品的設計與製造。

(本文作者為宜特科技協理)

COTS逐項通關晉升太空元件 模擬測試應對火箭發射/輻射挑戰(1)

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