> 資源下載

就是這篇！為5G半導體開發與測試人員撰寫的完整指南

2019-11-11

高頻寬5G技術的急速發展，為新裝置的RF效能測試與量測作業帶來多項重大挑戰。若要跟上龐大的5G市場需求，研究人員與工程師勢必需要仰賴更快速，更具成本效益，且可因應上述挑戰的測試系統。當中最艱鉅的挑戰，莫過於特性化實驗室與生產階段的mmWave OTA測試。雖然測試與量測系統需經過精心設計，以測試現行的AiP裝置，但這些系統也必須因應日後的波束賦形與OTA測試需求。此一測試系統需具備靈活彈性，超越現行裝置的範疇，並順應日後的半導體技術發展。集結模組化硬體與靈活軟體的測試平台，可協助工程師運用新的儀器功能，加速5G裝置的特性化，檢驗與生產測試，並減少需投注其中的心力。