愛德萬(Advantest)正全力猛攻8和16位元微控制器(MCU)測試市場。隨著上半年順利完成惠瑞捷(Verigy)併購案，愛德萬為擴大自動測試設備(ATE)市占率，推出T2000整合性並列同測(IMS)測試解決方案，可降低內建類比(Analog)電路與內嵌快閃記憶體電路(eFlash)MCU的檢測成本，並大幅提升測試效率。
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| 愛德萬系統單晶片事業處協理上野融指出，近年來行動通訊的興起，推升SoC測試市場成長力道不斷增加。 |
愛德萬系統單晶片(SoC)事業處協理上野融表示，由於MCU已充斥著各式電子裝置，原始設備製造商(OEM)對此一元件的效能與供貨要求亦日趨嚴苛，因此晶片業者為即時提供品質無虞的晶片，勢必須借助先進自動化測試設備以提升測試效率；而檢測設備的產出與測試能力，則是關乎MCU生產成本能否降低的關鍵要素。
為滿足此一市場需求，愛德萬發表全新自動化測試設備--T2000 IMS，此一機台的並列同測能力高達兩百五十六個元件，可提供MCU業者高產出與高速測試功能，且並行測試效率亦超過99%。T2000 IMS亦採通用接腳架構，一次可管理兩百零八個不同通道的資源，使客戶能具備最佳的IC設計彈性。
上野融進一步指出，有別於其他競爭對手的自動化測試設備大多採用多套模組，且以較為複雜的效能電路板管理設備中的模組，愛德萬僅須一套IMS模組，即可獲得與多個模組一樣的測試效率，而此一優勢也讓維修更加容易，售價也可更具市場競爭力。
儘管T2000 IMS可針對8和16位元MCU提供高效率的測試，但諸如德州儀器(TI)、恩智浦(NXP)與新唐等MCU供應商皆開始積極布局32位元產品線，而自動化設備是否足以支援此一新規格，亦為業界關注焦點。上野融解釋，T2000 IMS依然能滿足32位元MCU相關測試需求，然產出與測試的能力則難以與16位元以下的晶片比擬，現階段愛德萬將先鞏固應用範圍較廣泛的8和16位元測試市場。
與惠瑞捷完成合併後，現今愛德萬在自動化測試設備市場的市占率已接近50%。上野融認為，未來愛德萬產品線仍將聚焦記憶體(Memory)與SoC兩大測試市場；其中，在行動通訊市場推升下，包括MCU、射頻(RF)晶片、近距離無線通訊(NFC)、應用處理器(AP)等SoC測試需求的成長力道可望日趨強勁；相較之下，記憶體測試市場成長幅度則較減緩，須視未來是否有新的應用能帶動出貨量，但整體而言，該公司2012、2013兩年的營收與市占率皆可望大幅成長。