國家儀器(NI)持續強化半導體測試布局，其開放平台解決方案正高舉經濟實惠、靈活彈性以及性能不遜於傳統自動測試設備(ATE)等賣點，步步向半導體測試設備市場發動攻勢。
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| NI射頻&無線測試行銷部資深經理Raajit Lall表示，開放性測試平台，將有助於降低半導體測試成本，並加快測試速度。 |
NI射頻&無線測試行銷部資深經理Raajit Lall表示，隨著物聯網興起，多元且複雜化的半導體零組件應運而生，讓半導體廠商在進行各項待測物量測時面臨極大的挑戰；為解決此現況，NI發布開放式半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS)，可降低廠商從特性量測到生產製造的系統成本，進而協助半導體業者邁向智慧型自動化測試設備。
過去半導體測試通常採用封閉式測試方法，由儀器商或設備商定義客戶所需要測試的東西，而這種測量模式也持續多年，不過，近幾年市場急遽變化，眾多廠商開始尋求一種更開放的平台解決方案，期藉此加快量測速度及成本。
Lall進一步分析，在該公司的觀點來看，建構開放的平台解決方案，首重軟體技術。他強調，軟體是唯一一個可以讓平台快速靈活滿足各種應用的關鍵。使用該公司向量訊號收發儀(VST)搭配LabVIEW軟體，可滿足半導體、消費型電子、國防、汽車產業等各種不同測試需求，並且能夠讓使用者修改其測試方法，甚至修改儀器功能。
其次，Lall認為，PXI基礎與模組化儀器兩大部分，則是繼軟體之後，需要被關注的重點。PXI基礎泛指機箱或控制器，可提供模組與儀器之間同步和控制單元等功能；而模組化儀器為測試儀器主要核心，儀器商不只是希望實現半導體測試系統的測試自動化，更希望用戶可以利用現場可編程閘陣列(FPGA)實現客製化，而此願景可於NI提供的開放式PXI模組化硬體平台得以實現。
Lall談到，半導體測試機或測試應用可分為三大類，包含半導體特性描述(Semiconductor Characterization)、客製化產線測試系統(Custom-Built Production Test System)與STS Production Test System。其中，客製化產線測試系統是指測試機製造商或半導體業者採購市面現有的測試元件或儀器，自行DIY組成測試系統，加快自身產品的測試系統。
這種方式在半導體業內十分常見，但DIY系統經常面臨維護的問題。有鑑於此，NI提供一種標準化規格，一舉統一不同測試系統與不同測試的介面，同時，保有PXI開放性與彈性，讓使用者可以在其中做客製化、自動化的動作。