40 & 100Gbit/s乙太網路(GbE)已於2010年6月17日通過IEEE 802.3ba標準，此標準的制訂和通過滿足幾個新光通訊介面及其相關技術的需求。新型的光通訊介面包括：分別為40GBASE-SR4和100GBASE-SR10的四及十通道，多模式850奈米(每通道負載10.3125Gbit/s資料率)；在10.3125Gbit/s時40GBASE波長13XX奈米WDM通道；在25.78125Gbit/s時100GBASE-LR4和100GBASE-ER4 4波長13XX奈米WDM通道。此新的100GBASE-LR&ER四介面以25.78125Gbit/s資料率運作，建立超出既定10GbE測試設備的新的測試需求。
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| 圖1 太克科技DSA8200取樣示波器 |
相容性測試具挑戰性
100GBASE-LR4 & ER4介面技術上，最具挑戰性的測試需求為光發送器相容性測試。光發送器傳送波形(眼狀圖)相容性測試要求，包括需要嚴格控制頻率響應的新參考接收器、3分貝(dB)頻寬的19.34GHz取樣率(0.75×25.78125Gbit/s)，以及使用符合10MHz鎖相迴路(PLL)迴路頻寬和-20dB/decade下滑的時脈還原裝置(CRU)標準。
太克科技(Tektronix)為滿足新的100GBASE-LR4 &ER4傳送波形相容性測試需求，提供以DSA8200數位串列分析儀取樣示波器(圖1)和80C10B光模組為基礎的強大多功能解決方案(表1)。配備選項F1(適用於25G和40G濾波器的濾波選項)和CRTP(40+Gbit/s時脈還原觸發截止選項)時，能啟動太克科技CR286A 28.6Gbit/s時脈還原儀器的輸入，以確保符合時脈還原標準，並保證光參考接收器解決電信和數據通訊標準問題，即單一模組的頻率可從25.7G～44.5GHz。
配備80C10B模組的DSA8200提供一個量測解決方案，其中包括最低光雜訊、最佳訊號完整性、200fsec RMS抖動(配備82A04相位參考模組)，以及出色的量測輸送量。
解決方案須全面完整
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| 圖2 CR286A時脈還原儀器 |
CR286A時脈還原儀器(圖2)具備從150M～28.6Gbit/s的連續資料率涵蓋範圍，提供全面性的「黃金PLL」標準，可為發送器和接受器進行所有較老舊以及最新的與即將通過的串列標準相容性測試，如100GBASE-LR & ER4、CEI-25G-LR、CEI-28G-SR、16xFC和未來的28xFC (28.050Gbit/s)。
CR286A獨立的控制、量測和200k～12MHz的PLL迴路頻寬(可選購至24MHz)顯示功能，能夠為發送器眼狀圖、抖動量測及接受器壓力測試校驗提供「黃金PLL」響應，以符合25.78125Gbit/s 100GBASE-LR4 & CEI-25G-LR和28.050Gbit/s CEI-25G & CEI-28G-SR規格標準。
此外，配備多功能CR286A的DSA8200可降低測試成本。只須新增80C08C(表2)或80C12 10G光模組，DSA8200測試系統即可支援光發送器測試，進行所有新一代從10G至100G訊號主機的主要光通訊標準。
由此可見，太克科技DSA8200數位串列分析儀和BERT-Scope時脈還原產品組合，可提供效能、準確度和訊號完整性。
(本文作者為太克科技技術經理)