隨著各式新興通訊標準陸續問世，測試難度也隨之提升。為因應此變化，量測業者不得不加足馬力，透過推出更高階量測儀器產品，以滿足更高門檻之應用。
日前量測廠商安捷倫(Agilent)推出應用於微波網路分析儀之強化軟體，允許一般微波網路分析儀進行非線性(Non-linear)向量網路分析之量測，並特別適合射頻(RF)元件之設計。一般認為，透過非線性訊號之模擬，將可有效找出非線性元件之相關特性，並有效掌握設計瓶頸。而安捷倫自行開發之非線性散射參數X參數(X Parameter)，由於以類似矩陣方式提供協助，因此更可改善設計效率。
安捷倫科技電子量測事業群元件測試事業部新業務開發經理柳本吉之(Yoshiyuki Yanagimoto)表示，由於非線性是指兩個變數間不成簡單比例或線性關係，因而要對主動元件，尤其是高功率放大器和頻率倍增器的非線性行為進行準確的特性描述時，勢必需要專為非線性量測而設計的工具。柳本吉之指出，工程師必須了解、控制及減少元件的非線性行為，才能建構高功率線性解決方案，而專為非線性設計之相關工具，更可大幅減去設計人員之負擔。
安捷倫稍早時針對該公司之微波網路分析儀，推出提供非線性向量網路分析儀(NVNA)功能之軟體，該軟體提供非線性元件的特性描述及非線性脈衝波封域功能，專門適合研發工程人員與設計人員在研究及設計RF主動元件時使用。值得一提的是，安捷倫此次涵蓋10M～26.5GHz的RF非線性網路分析軟體，僅須搭配少數外部硬體，即可將四埠微波網路分析儀提升為高效能非線性分析儀。
柳本吉之指出，目前的設計流程多半呈單向循環，由上而下(圖1)；但在加入安捷倫自行研發之X參數以後，該功能可將線性散射參數延伸到非線性操作範圍，簡化設計(圖2)，並可利用量測資料，準確地描述非線性元件和串接式非線性元件的行為，因此對待測元件(DUT)的非線性行為可徹底洞察，進而設計高效能主動元件。
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資料來源：安捷倫
圖1 原有設計流程 |
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資料來源：安捷倫
圖2 加入X參數之設計流程 |