明導國際(Mentor Graphics)宣布意法半導體(STMicroelectronics)採用TestKompress自動化測試向量產生(ATPG)產品，融入該公司標準65～45奈米設計套件中，這個嶄新測試流程將為汽車、行動基地台與影像處理等應用軟體實現以掃描為基礎的高品質量產測試。
明導國際(Mentor Graphics)宣布意法半導體(STMicroelectronics)採用TestKompress自動化測試向量產生(ATPG)產品，融入該公司標準65～45奈米設計套件中，這個嶄新測試流程將為汽車、行動基地台與影像處理等應用軟體實現以掃描為基礎的高品質量產測試。
意法半導體將明導國際的Design-For-Test (DFT)技術融入自己65奈米和先進奈米設計流程後，成果獲益良多，追求較小的晶片面積產生全新且難纏的故障機制，僅仰賴靜態故障模型的傳統掃描測試，很容易就會遺漏這個故障機制，要求較高品質裝置的應用需要以這些全新故障機制為目標額外測試向量。
意法半導體採用各種量產測試，包括有時序概念的實速測試和具有布局概念的橋接故障測試，確保自己的半導體產品品質，明導TestKompress壓縮技術容許新增這些額外的測試，同時縮減測試資料量與測試時間，意法半導體也運用明導DFT工具，將系統內測試納入可靠性產品中，實現較高速系統完整性檢查與簡化的現場故障排除。
意法半導體網址：www.st.com
明導國際網址：www.mentor.com