半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)發表高速I/O(HSIO)卡Pin Scale Multilevel Serial。為V93000 EXA Scale ATE平台設計的Pin Scale Multilevel Serial，也是一款為滿足通訊介面之訊號需求而推出的高度整合HSIO ATE卡。
在運算領域已普遍採用的HSIO介面，現在進一步使用在HDMI、DisplayPort和USB等消費性介面中。在運算領域，PCI Express(PCIe)5.0與6.0正朝數千兆位元(multi-gigabit)資料傳輸率邁進，並應用於嵌入式單板電腦；當企業針對像微控制器、行動應用處理器、到高效能運算和人工智慧(AI)元件等這些大量數位設計及其介面進行測試時，亟需要HSIO來應對這些高密度設計。因此，HSIO測試對於新元件設計之特性分析(characterization)以及元件初期製生產階段至關重要。
Pin Scale Multilevel Serial支援最高32Gbps的資料傳輸率，也是款高度整合的ATE卡，本身就能支援高速介面中愈來愈普遍的多階信號(Multilevel Signaling)技術(譬如PAM4)。由於可直接採用數位測試中典型的程式架構，這一特點提高了使用的便利性，進而減少測試程式開發的時間與成本，也因此可以在新晶片設計生產初期提供額外測試覆蓋率，幫助優化先進技術、加快上市時間。
由於Pin Scale Multilevel Serial具備整合特色，很容易能配置到EXA Scale平台上。同類競爭產品一般都需要在測試頭頂端和待測物(DUT)間加入整合機制，但此舉會削弱訊號效能、不利製造整合。Pin Scale Multilevel Serial已接受多家主要客戶初步評估，愛德萬測試很快便會開放預訂。