Tektronix日前發布適用於Keithley S530系列參數測試系統的KTE V7.1軟體，協助加速半導體晶片製造流程。該版本首次提供的新選項，包括平行測試功能和高壓電容測試選項，適用於新興電源和寬能隙應用，將測試時間縮短10%以上，工程師可減少停機時間並快速製造晶片。
5G和物聯網(IoT)推動全球對半導體的需求。如欲解決全球晶片短缺的現象，不僅需要提升現有的製造量，還需要更快速地測試正在開發的新晶片。Tektronix新型測試系統可顯著減少測試時間，有助於加快製造速度，進而加快向市場交付新晶片。
KTE V7.1是以KTE 7.0作為基礎，對S530系統進行功能和輸送量的改進版本。新的測試頭設計可使用不同探棒卡。升級後的軟體和硬體可提供單通測試和高輸送量。在服務方面，最近發布的系統參考單元(SRU)將校驗時間縮短至低於8小時，意味著這些程序可在一個常規工作班次中完成。
KTE V7.1版本首次提供適用選項，使S530可進一步提高生產力並降低測試成本，預計改進範圍為30%。Keithley的平行測試軟體建立在S530的硬體架構，可最佳化所有系統資源的效率，提升測試輸送量。
現今的工程師需要測試高壓裝置，對具有更快切換速度和更高效切換的晶片的需求不斷成長。更高的效率不僅可減少用電量和發熱量，也對環境更加友善。為了在更高的操作電壓下測試寬能隙裝置，工程師們正從研發實驗室轉向製造過程。
KTE V7.1版本中所提供的高壓電容電壓(HVCV)特殊選項，是與單通道測試解決方案相結合的產品，可量測200到1,000V之間的電壓，提供測試達1,100V直流偏壓電容的能力。這項適合生產使用的功能，可精確量測Cdg、Cgs和Cds，以支援電源裝置輸入和輸出暫態效能的特性分析和測試作業。
S530-HV系統中可配置達兩個2470SMU，其內部的高壓切換矩陣，讓使用者能在任何測試針腳上執行這些量測。這項功能不僅能滿足各種測試裝置和結構的針腳輸出要求，同時消除與雙通道測試或專用針腳方法相關的輸送量延遲，更有效降低成本。