隨著 白色發光二極體(LED)的發展與技術越來越成熟，其應用領域也已經遍及背光模組與照明市場，根據LEDinside資料顯示，今年LED液晶電視機背光模組的滲透率可達40～50 %，且LED照明市場因應綠能與環保的需求，勢必會成為主流。
隨著 白色發光二極體(LED)的發展與技術越來越成熟，其應用領域也已經遍及背光模組與照明市場，根據LEDinside資料顯示，今年LED液晶電視機背光模組的滲透率可達40～50 %，且LED照明市場因應綠能與環保的需求，勢必會成為主流。
根據LEDinside資料預估LED的市場需求將成倍數成長，如何提高產能與降低測試成本已經成為當前主要的課題，最佳的解決方案必然是要利用半導體測試中普遍使用的多點測試技術，以提高產能與降低成本，美商國家儀器(NI)與順英科技將針對現今最熱門的LED測試技術，介紹最新PXI 技術如何應用於LED光電多點測試，以達到LED最佳測試效能。
目前市場上多數的產品都只提供單點測試的功能，而且電源量測單位(SMU)及其他關鍵零組件多採自行設計方式。此次研討會中所推出完整的LED多點測試系統，不論是電學或光學特性的量測，均可提供完整的測試規畫，協助工程師完整建立LED生產線測試系統。
本研討會將於7月20日於新竹科學園區科技生活館201室舉行。美商國家儀器竭誠歡迎各相關領域的專家學者一同與會，一起為LED的先進技術共同努力。
美商國家儀器網址：www.ni.com