安立知(Anritsu)為其光譜分析儀MS9740B推出新的測量功能(MS9740B-020)，使用脈衝模式評估雷射二極體(Laser Diode, LD)晶片。此全新解決方案縮短了高功率LD晶片的測試時間，有助於提升其生產效率。
高功率LD晶片的市場需求來自於更高的通訊位元速率以及更廣的光達(LiDAR)偵測範圍。此外，因應共同封裝光學應用的外部雷射小型可插拔(ELSFP)模組等新用例預計也會加速上述需求。
高功率LD晶片的連續波(CW)輸出會因晶片溫度升高而出現功率漂移和波長偏移的問題，使用脈衝模式驅動晶片可抑制溫度升高，並有助於避免這種情況發生。然而，目前在生產過程中進行LD晶片的脈衝測試需要較長的時間，因為它還需要外部觸發訊號才能與LD晶片的脈衝頻率同步。
新型MS9740B-020解決方案能夠減少LD晶片脈衝測試的生產時間(Tact Time)，無須外部觸發訊號，加快了光譜評估的速度。此外，也可確保高功率LD晶片的測量再現性，並確保旁模抑制比(SMSR)的測量再現性為±1.4dB(安裝MS9740B-020時為±1.8dB)，較低的SMSR變化可提高LD晶片的良率，協助提高生產效率。