太克(Tektronix)宣布PulseCore已成功採用其測試儀器的完整套件，對其新推出的USB 2.0積體電路(IC)進行測試與驗證。新的PulseCore IC採用展頻式時脈(SSC)，以減少電磁干擾(EMI)，同時達成USB 2.0相容性。
太克(Tektronix)宣布PulseCore已成功採用其測試儀器的完整套件，對其新推出的USB 2.0積體電路(IC)進行測試與驗證。新的PulseCore IC採用展頻式時脈(SSC)，以減少電磁干擾(EMI)，同時達成USB 2.0相容性。
為量測USB 2.0相容性與訊號完整性，PulseCore 結合 DPO7254示波器和 TDSUSB2軟體選項、TDSUSBF測試夾具，以及P7360A 6 GHz差動主動式探棒。為量測纜線上與輻射性USB 2.0 EMI功率降低，PulseCore也使用RSA6114A即時頻譜分析儀(RTSA)與 DPX Live RF顯示器。DPX波形影像處理技術提供頻譜Live RF檢視，可顯示先前無法看見的RF訊號和異常訊號。
使用此測試套件，PulseCore能驗證其SSC技術效能，以提供平均4dB的EMI衰減，並達成USB 2.0相容性。RTSA提供SSC 開/關轉換的即時分析，同時使用示波器進行設計驗證、除錯和測試，以確保關鍵的SSC參數隨時都符合規格。
儀器和軟體速度、穩定一致性和彈性，有助於PulseCore找到新IC限制，進而提供更多設計選項給PulseCore客戶。透過PuseCore詳盡測試所得到的資訊，採用新IC系統設計人員便可洞察限制所在，以進行最佳化效能或將EMI衰減降到最低。
太克網址：www.tektronix.com