是德科技(Keysight)日前宣布推出第三代的Keysight P9000系列大規模並聯參數測設系統。該系統可加速推動新技術的發展，並且降低先進半導體邏輯和記憶體IC的研發和製造成本。舉例而言，新型元件結構和更高的效能，讓每個先進技術節點(小於或等於20 nm)所需的參數測試資料急遽增加。
是德科技(Keysight)日前宣布推出第三代的Keysight P9000系列大規模並聯參數測設系統。該系統可加速推動新技術的發展，並且降低先進半導體邏輯和記憶體IC的研發和製造成本。舉例而言，新型元件結構和更高的效能，讓每個先進技術節點(小於或等於20 nm)所需的參數測試資料急遽增加。
台灣是德科技總經理張志銘表示，目前已有數百台Keysight P9000被全球半導體公司用於研發和量產，例如先進的邏輯晶圓廠和記憶體製造商。該公司將持續增強P9000，以降低客戶的上市時間和測試成本，其提供最快的並聯參數測試解決方案，具有100接腳的TRUE參數接腳模組，即使在傳統測試系統的測試結構中也能快速運作。
Keysight P9000可使用專用的接腳測試單元模組，在矽晶圓上進行100-pin多元件並聯測試。該模組具有參數測試所需的所有基本量測功能，例如電壓、電流、電容、脈衝和頻率。此外，直接電荷量測(DCM)技術使得高速100-pin並聯電容量測變得可能。
第二代P9000包含是德科技研發的快速Vt量測技術，可提供單次臨界電壓(Vt)量測，除了100-pin並聯量測外，DCM和高速Vt量測技術所提供的更快速單一參數量測，進一步增進了測試速度。隨著第三代的問世，加上Keysight P9015A接腳參數測試模組的輔助，該測試儀進一步縮短了電容量測時間，並解決因多層互連和新元件架構導致電容測試量增加的問題。