瑞薩電日前推出了32位元RX微控制器(MCU)的RX23E-A產品家族，將高精確度的類比前端(AFE)和MCU結合在單一晶片上。RX23E-A MCU專為製造測試和量測設備應用產品而設計，這些設備要求高精確度的類比訊號量測，用來測量溫度、壓力、重量和流量。RX23E-A MCU是瑞薩第一款在無校正下，就能夠提供優於0.1％精確度來測量此類訊號的解決方案。
這款新型MCU實現了業界最高等級的AFE精確度(偏移漂移：10 nV /°C、增益漂移：1 ppm /°C、RMS雜訊：30 nV rms)，這種水準在以往只能透過結合運用高精確度運算放大器IC的專用A/D轉換器電路來達成。瑞薩藉由使用相同的製造製程技術，將這種高精度AFE IP(智慧財產權)整合在單一晶片上，現在可以在單晶片上，實現高精確度感測器的量測、計算、控制和通訊。這使得系統製造商可在需要高精確度量測的各式設備中，削減所需的元件數量，以節省空間並簡化系統設計。而這樣的高精確度量測，包含了感測、溫度控制器、記錄、稱重和力道感測等。此外，也可藉由啟用MCU的分散式處理，來加速端點智慧化。
瑞薩電子公司工業自動化業務部副總裁傳田明(Akira Denda)表示，RX23E-A MCU將徹底改變高精確度類比量測系統的結構。展望未來，瑞薩的目標是提供龐大的產品線，由RX23E-A產品組開始，在單晶片上整合MCU和高精度類比單元，用於可程式邏輯控制器、分散式控制系統應用產品，以及需要進行各種更高精確度量測的測試量測設備。
由大數據所帶動的品質和生產力改良，讓工廠和生產基地面臨壓力，而必須準確可靠地測量各式各樣感測器的資料。由於使用者在各種環境溫度下以高精確度測量小訊號時，要求的是穩定性，因此將雜訊特性和溫度漂移特性降低到較低的水準，是非常重要的。瑞薩為了滿足這些需求，開發了一種高精度AFE，並將其整合到RX MCU中，因為RX MCU已在工業應用產品中，擁有大量實績。