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2009-06-05
儘管近期PCIe 3.0的發展吸引不少業界目光，但目前真正應用大宗仍以PCIe 2.0為主，不但廣泛應用於各種領域，呈現方式也頗為多元。連帶地，PCIe之量測需求也同樣隨之看漲，並帶動各式量測設備與解決方案的興起，若能善用測試工具，將有助於PCIe 2.0產品加速問世。
2006-08-17
FPGA晶片經常用於複雜的系統設計，為了進行除錯，必須查看FPGA內部運作狀況，但可用來探查內部訊號的接腳數卻相當有限，導致除錯工作困難重重。核心輔助式除錯法藉由在晶片插入除錯核心，只須花少許功夫，就可放入FPGA中，且可在開發過程的後期加入，輔以外部量測儀器，可大幅縮短量測時間，並且更容易找出問題。
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