USB-IF對於OTG產品的認證,目前只有FS的LOGO,對於HS OTG的LOGO,因為HS OPT的測試方式還未完成,所以可能要今年底才會出現...
USB-IF對於OTG產品的認證,目前只有FS的LOGO,對於HS OTG的LOGO,因為HS OPT的測試方式還未完成,所以可能要今年底才會出現。對於廠商而言,如有需要對Silicon ASIC或End-Product認證(如廠商本身為USB-IF的會員),可參加IF辦的Compliance Workshop,可參考http://www .usb.org/ developers/ events/ 有詳細介紹。
如不是會員可到ALLION NSTL Asia百佳泰電腦測試。但筆者建議在去認證之前,先在自己Lab測過再去,才不會白跑一趟。相關的測試工具如OET、OPT等在OTG IF的網站中都買的到。
首先我們先來了解OTG產品的定義(圖1)。以及OTG產品測試主要四大項目。
OTG Protocol Test(OPT)
這項測試主要是測當OTG Device為A-Device和B-Device時,相對回應OPT測試卡的HNP、SRP、Reset、Resume等Timing是否正確。OPT測試卡如圖2。測試步驟如下:
安裝完成後,執行OPT測試軟體你會看到如圖3的畫面。
在執行OTG Protocol測試時,需準備一條Mini-A to Mini-B的Cable。這項測試主要分成2部份:
DB-Device:將Mini-B插入待測的Device中,Mini-A插入OPT測試卡。完成後執行「Test B-device」。
測試硬體方塊圖如圖4。
測試流程和各測試點的測試項目如圖5。
測試完成後產生的Log Summary和Log File如圖6、圖7。
最後測試完成的報告如圖8、圖9。
這個項目和傳統USB Device的測試方法相同,所以在此就不多做介紹。但Power Measurement的部份,OTG Device就和傳統USB Device不一樣,可參考圖10。
這項測試主要是測當OTG Device為A-Device和B-Device時,是否有發SRP的能力,電壓是否合乎Spec等,OET測試板如圖11。測試分成2部份8小項:
OET測試板硬體電路圖如圖12。
茲分就OET的8向測試說明如下:
量測結果如圖13。
量測目的:檢查A-Device推VBUS時,是否能在1秒鐘內把VBUS推到4.4V以上。
量測報告如圖14。
量測結果如圖15。
量測目的:檢查A-Device推VBUS時,Rise Time是否在小於100ms。
量測報告如圖16。
量測結果如圖17。
量測目的:檢查B-Device接上另外一個OTG Device時,發出SRP的Peak Time VBUS Voltage是否在2.1V到5.25V之間。
量測報告如圖18。
量測結果如圖19。
量測目的:檢查B-Device接上PC時,發出SRP的Peak Time VBUS Voltage是否小於等於2V。
量測報告如圖20。
量測結果如圖21。
量測目的:檢查A-Device可否提供大於100mA的電流,如果不能需要告知使用者。例如Show a message「Attached Device Not Support」。如果可以VBUS Minimum Voltage必須大於4.4V。The Mean Voltage必須介於4.75~5.25V之間。
量測報告如圖22。
量測結果如圖23。
量測目的:檢查A-Device是否有能力回應VBUS Pulsing。如果Device不Support請在N/A的地方打勾。如果Support,當VBUS的電壓加到大於2.05V時,必須在1秒鐘之內把VBUS推到大於4.4V。
量測報告如圖24。
量測結果如圖25。
量測目的:檢查B-Device當VBUS電壓加到750mV時,不能有Data Channel上升,當VBUS電壓加到4.05V時,Data Channel需在1秒鐘之內上升到高於2.7V。
量測報告如圖26。
量測結果如圖27。
量測目的:檢查B-Device發SRP時,Data Line Pulsing的電壓是否在2.7V到3.6V之間,並且寬度是否在5ms到10ms之間。
量測報告如圖28。
這個項目和傳統USB Device的測試方法相同,所以在此就不多做介紹。
最後,去測試前再把OTG_Compliance_ Document RC1的文件,和USB Device相關文件的表格填寫完成後,就可以去參加測試了。希望相關的介紹能夠對有需要FS OTG LOGO的廠商有所幫助,也可使消費者了解只有在產品上有LOGO的產品才是合乎OTG規格的產品。在不久的未來,不用透過PC就能傳資料的時代將會來臨。
(文中圖表請翻閱新通訊46期12月號)