安立知(Anritsu)新一代高速串列電路與光通訊元件量測研討會，將於2014年12月9日及10日分別在台北及新竹舉行，會中將針對高速傳輸市場趨勢進行剖析，除分析既有100GE市場概況外，亦將與與會者分享未來400GE與1TE之技術發展狀況，進一步探討高速傳輸所遇到的訊信號完整性問題、高速主動光元件技術的發展方向，以及被動元件的量測技巧。
安立知(Anritsu)新一代高速串列電路與光通訊元件量測研討會，將於2014年12月9日及10日分別在台北及新竹舉行，會中將針對高速傳輸市場趨勢進行剖析，除分析既有100GE市場概況外，亦將與與會者分享未來400GE與1TE之技術發展狀況，進一步探討高速傳輸所遇到的訊信號完整性問題、高速主動光元件技術的發展方向，以及被動元件的量測技巧。
面對大量資料處理需求所帶動的高速介面發展與設計測試之各項挑戰，「2014新一代高速串列電路與光通訊元件量測研討會」將針對雲端應用所帶動的相關高速傳輸規格與測試需求進行深入剖析，探討高速傳輸所面對的信號完整性問題以及最新100Gbit/s抖動容限(Jitter Tolerance)測試架構解密，
本會議特別邀請中央大學電機工程學系許晉瑋教授介紹高速關鍵光元件技術，以及光合訊科技專案經理張瑋倫先生解說Coupler、Splitter與EDFA等被動元件量測技巧。
會議資訊：
台北場次：2014年12月09日(週二)；13:00～16:40；維多麗亞酒店3樓維多麗亞廳
新竹場次：2014年12月10日(週三)；13:00～16:40；新竹老爺大酒店6樓宴會廳
參加費用：免費
活動網站：www.anritsu.com/zh-TW/Events/Other-Special-Events/2014/AEV002622.aspx
安立知網址：www.anritsu.com