PWB CAF IST

UL成立台灣印刷電路板性能測試服務實驗室

2015-10-27
UL於台北的印刷電路板性能測試服務實驗室正式開幕,配合廣受業界肯定的UL746及UL796的安全認證,為當地印刷電路板上下游提供更完整的產品規範測試及檢測服務。
UL於台北的印刷電路板性能測試服務實驗室正式開幕,配合廣受業界肯定的UL746及UL796的安全認證,為當地印刷電路板上下游提供更完整的產品規範測試及檢測服務。

UL電子科技產業大中華區工程部總監蔡英哲指出,現今電路板設計追求高品質、高密度、高速應用,而UL是唯一可涵蓋物性、化性及電性的全方位實驗室;加上我們提供測試前諮詢與設計輔導,以及測試後的失效分析找出關鍵問題根源,有助製造商優化產品,在競爭市場中成為焦點。

為配合產業發展,UL選擇於台灣──印刷電路板製造業的重鎮,發展最新印刷電路板性能測試服務實驗室,主要提供三項可靠度與性能測試服務,包括CAF(陽極玻纖紗電化學遷移成長)及IST(互連應力試驗)兩項可靠度試驗,與針對訊號完整性的SET2DIL(單端阻抗訊號損失試驗)性能測試。SET2DIL/Delta-L是Intel主導的測試方法,是針對訊號完整性要求高的電路板,進行高頻訊號性能測試。主要是針對印刷電線板(PWB)製程與材料評估的重要測試。

UL網址:www.UL.com

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