是德(Keysight)日前宣布推出全新Keysight P9002A並聯參數測試系統，以協助半導體廠商進行經濟有效的高速晶圓測試，讓業者能加快研發和產品上市速度，並降低製造測試成本。
全球半導體短缺，對汽車、數位裝置和家用電器產業的衝擊甚鉅，市場需求也節節攀升。 另一方面，半導體產業不斷推展技術創新，例如採用新材料、微型化技術和3D封裝製程，但也因而面臨著各種技術挑戰。 此外，隨著適用於5G、資料中心、人工智慧(AI)和汽車等商業應用的複雜元件設計紛紛湧現，工程師需進行測試的參數也越來越多。
為因應此挑戰，並協助製造商快速提升產能，是德推出新的P9002A並聯參數測試系統，以實現高量測速率且經濟有效的晶圓測試。該系統提供支援多達100個通道並聯測試資源的靈活選項結構，包括在每個測試資源上進行參數測試所需的測試功能。Keysight P9000系列的軟體與4080系列參數測試系統的SPECS軟體相容，讓客戶能夠利用現有的測試程式和測試計畫，進行資料關聯性比對。
是德科技晶圓測試解決方案事業群副總裁暨總經理Shinji Terasawa表示，是德很高興能透過P9002A測試系統等先進量測解決方案，支援不斷演進的半導體產品開發和製造。 這套新的解決方案充分利用是德經驗證的參數測試經驗和專業知識，協助客戶迎戰各種嚴苛的測試難題。