愛德萬推出新款NAND快閃記憶體預燒測試機組

愛德萬測試推出最新一代B6700系列記憶體預燒測試機的兩組機種。B6700L和B6700S型號機種不但可降低測試成本，同時提高了伺服務器和行動數據儲存應用環境的NAND快閃記憶體測試能力。

系列中的初始機種– 也就是近期發佈之B6700D – 設計上著重於平行操作, 通過預燒期間NAND快閃記憶體設備的功能評估，新一代記憶體裝置之測試成本將大幅降低。與之前的系列產品相比，本系統的許多關鍵功能增加一倍，其中包括兩倍的輸入通道和電源容量以及雙槽式設計。

新型B6700L測試機與B6700D相同的環境結構，並能適應更寬廣的溫度範圍。設備能夠在 -40°C~150°C的範圍內以0.1°C的增量進行溫度控制測試，本系統適用於可靠性測試和汽車設備測試。B6700L可同時測試多達12組B6700D相容特性的預燒板(BIB)和測試程序。

新的零佔用空間B6700S系統針對NAND快閃記憶體提供極低成本的測試解決方案，同時提供與其系列機種相同功能。B6700S可提供B6700D的單元化功能，並嵌入用於單晶圓等級測試的多晶圓探測系統中, 避免在實驗室或生產環境中因佔用空間所導致之相關成本。

B6700產品系列的所有機種皆使用相同的測試機板與操作系統，從而實現使用相容性。支援故障區塊記憶體(BBM)、通用緩衝記憶體(UBM)和資料樣式記憶體(DPM)功能以啟動NAND設備測試。