在充滿智慧裝置的物聯網時代，多元且複雜化的半導體零組件應運而生，讓半導體廠商在進行各項待測物量測時面臨極大的挑戰。國家儀器(NI)身為平台式系統供應商，協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰，將於9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期間，展出專為半導體生產環境而設計的NI半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS)，解決現今半導體公司面臨智慧裝置複雜化的挑戰，降低廠商從特性量測到生產製造的系統成本，進而協助半導體業者邁向智能型自動化測試設備(ATE)的階段。
在充滿智慧裝置的物聯網時代，多元且複雜化的半導體零組件應運而生，讓半導體廠商在進行各項待測物量測時面臨極大的挑戰。國家儀器(NI)身為平台式系統供應商，協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰，將於9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期間，展出專為半導體生產環境而設計的NI半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS)，解決現今半導體公司面臨智慧裝置複雜化的挑戰，降低廠商從特性量測到生產製造的系統成本，進而協助半導體業者邁向智能型自動化測試設備(ATE)的階段。
將於本次大展亮相的NI半導體測試系統STS具備開放式PXI架構，結合了模組化儀器與系統設計軟體，幫助測試系統工程師運用最先進的PXI儀器，滿足RF無線通訊和混合式訊號生產等最新半導體技術的測試需求。
除了專為主流半導體生產設計的STS，NI提供的開放式PXI模組化硬體平台，可搭配圖型化的開發軟體LabVIEW及自動化測試排成管理TestStand，加速工程師開發RF無線通訊與混合式訊號測試的時間，並降低開發過程的總成本，讓半導體廠商享有更完整的自動化測試解決方案。
NI網址:taiwan.ni.com