安捷倫(Agilent)日前宣布推出Agilent EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀。這套結合了硬體和軟體的下一代雜訊分析系統可量測並分析閃爍雜訊(Flicker Noise)和隨機電報雜訊(RTN)。
安捷倫(Agilent)日前宣布推出Agilent EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀。這套結合了硬體和軟體的下一代雜訊分析系統可量測並分析閃爍雜訊(Flicker Noise)和隨機電報雜訊(RTN)。
台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示，在過去20年間，安捷倫為全球頂尖的半導體材料供應商、晶圓代工廠、整合式元件製造商，以及IC設計公司，提供齊備的低頻雜訊量測儀器。現在，安捷倫將創新的量測演算法納入E4727A分析儀中，以提供業界最快的量測速度，並且巨幅提高客戶的投資報酬率。
閃爍雜訊一向都被視為是重要的電子元件特性，對於主動混頻器、壓控振盪器、分頻器、運算放大器和比較器的效能有極為顯著的影響。而這些元件正是射頻、類比/混合信號，以及高速有線通訊應用的基礎建構要件。閃爍雜訊和隨機電報雜訊也是半導體材料和製程的兩個敏感指標。隨著半導體技術不斷推陳出新，業界更迫切需要對低頻雜訊進行量測。
安捷倫最新的先進低頻雜訊分析儀是為了因應這些新挑戰而設計。其獨特的模組化設計有助於將系統雜訊降到最低、在超低頻率下提供各項量測功能，並且提供市場中最優異的高電壓/高電流處理能力。
安捷倫網址：www.agilent.com