安立知(Anritsu)宣布，村田製作所(Murata Manufacturing Co., Ltd.)使用安立知的頻譜分析儀，成功解析了USB 3.2通訊過程中導致雜訊產生的機制。
USB 3.2通訊過程中所產生的高頻雜訊會導致無線區域網路(WLAN)和Bluetooth無線通訊裝置的通訊速度降低、通訊品質下降等主要問題。
村田建立了符合USB-IF標準組織USB 3.2 RFI系統級測試的電磁雜訊測試環境，並於該環境中使用安立知的頻譜分析儀/訊號分析儀MS2830A，釐清了導致雜訊產生的機制。
安立知致力於建立雜訊抑制解決方案，其結合了村田在雜訊控制方面的專業技術和共模扼流線圈，可在保持訊號完整性的同時有效抑制雜訊。