是德科技(Keysight)日前發表最新版的高效能先進低頻雜訊分析儀(A-LFNA)軟體，以協助工程師執行快速、準確、可重複的低頻雜訊量測。新版軟體包含新的操作介面，並且與Keysight WaferPro Express軟體緊密結合。WaferPro Express平台可針對半導體元件自動執行晶圓級量測。該平台是這個大框架的一部分，讓工程師能深入了解元件和電路中的雜訊，而不僅是在獨立系統進行單向雜訊量測。
是德科技(Keysight)日前發表最新版的高效能先進低頻雜訊分析儀(A-LFNA)軟體，以協助工程師執行快速、準確、可重複的低頻雜訊量測。新版軟體包含新的操作介面，並且與Keysight WaferPro Express軟體緊密結合。WaferPro Express平台可針對半導體元件自動執行晶圓級量測。該平台是這個大框架的一部分，讓工程師能深入了解元件和電路中的雜訊，而不僅是在獨立系統進行單向雜訊量測。
台灣是德科技總經理張志銘表示，該公司的元件特性分析與建模軟體客戶各有不同的測試需求，從GaN可靠度和CMOS建模，到電磁感應器測試等。利用新的Keysight A-LFNA軟體操作介面，我們提供客戶在晶圓上進行元件雜訊量測與建模的能力，同時還提供完整且靈活的量測選項，從直流、電容到微波頻率上的S參數量測，一應俱全。
Keysight A-LFNA提供領先業界的雜訊靈敏度(-183dBV2/Hz)，讓元件建模與電路特性分析工程師可快速、準確地分析元件在高電壓(200V)、超低頻率(0.03Hz)時的特性。半導體晶圓代工廠可利用這些強大的功能，加速開發製程設計套件，並且在元件製造時進行統計製程控制。不僅如此，運算放大器和線性穩壓器的IC製造商還可使用A-LFNA，來分析資料表中輸出電壓雜訊規格的特性。
是德科技網址:www.keysight.com