安捷倫脈衝函數任意波形雜訊產生器上市

2008-02-20
安捷倫(Agilent)推出脈衝函數任意波形雜訊產生器,不僅能提供超優的訊號品質,且能產生各式各樣的波形,適合用以執行一般的桌上型測試或先進的序列資料壓力測試(Stress Test)。  
安捷倫(Agilent)推出脈衝函數任意波形雜訊產生器,不僅能提供超優的訊號品質,且能產生各式各樣的波形,適合用以執行一般的桌上型測試或先進的序列資料壓力測試(Stress Test)。  

為加快產品上市時間,負責設計與測試的工程師面臨極大壓力,不僅縮短設計時間,且所需達到的品質目標也更高。此外,講究市場差異化時,也須進行獨特的功能測試。為達到這些設計與測試目標,確實需要新類型的測試儀器。  

工程師須產生各種理想與最糟狀況的訊號,才能取得準確、快速且深入的待測元件(DUT),例如半導體內的電路、感應器和調變器等設計。Agilent 81150A所產生的精確訊號可協助工程師測試所設計的產品,而不是倒過來去測試訊號源的品質。因此,當訊號的真實度很重要時,剛好夠用的訊號品質其實並不夠。  

Agilent 81150A脈衝函數任意波形雜訊產生器可提供各式各樣的脈衝波形,並可產生雜訊,以進行壓力測試。在測試序列資料時,若能搭配其DSO5000/MSO6000/MSO8000/DS80000 Infiniium即時示波器或DCA-J取樣式示波器使用,將可提供最佳的激發訊號解決方案。完全整合成單一部儀器設計可將接線和空間的需求降到最低,並將測試時間縮到最短。  

安捷倫網址:www.agilent.com.tw

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