美商國家儀器(NI)推出新的PXI電源量測模組(SMU)系列產品，適用於自動化半導體測試。全新的PXIe-4143 SMU每秒取樣率為六十萬次，具有四個通道，堪稱通道密度最高的SMU，適用於多接腳半導體待測裝置的平行測試，並且能以150毫安培(mA)的多通道SMU 輸出範圍提高至24伏特(V)。這些功能有助於降低主要設備的成本、縮短測試時間，同時針對各種待測裝置提高混合訊號的測試彈性。
美商國家儀器(NI)推出新的PXI電源量測模組(SMU)系列產品，適用於自動化半導體測試。全新的PXIe-4143 SMU每秒取樣率為六十萬次，具有四個通道，堪稱通道密度最高的SMU，適用於多接腳半導體待測裝置的平行測試，並且能以150毫安培(mA)的多通道SMU 輸出範圍提高至24伏特(V)。這些功能有助於降低主要設備的成本、縮短測試時間，同時針對各種待測裝置提高混合訊號的測試彈性。
美商國家儀器半導體測試副理Ron Wolfe表示，全新的PXIe-4143可讓工程師針對幾乎各種裝置進行直流電(DC)量測，而公司儀器的通道數量亦領先業界，再加上優異的取樣率與可客製微調的SourceAdapt 技術，因此可打造出最具彈性的半導體量測儀器。
PXIe-4143採用PXI模組化架構，適合小型設備布署，且量測敏感度為10pA，可以150mA提供24V的四象限輸出功能，補足美商國家儀器現有的SMU 汲極(Sinking)與源極(Sourcing)功能。
美商國家儀器網址：www.ni.com