安捷倫(Agilent)近日宣布推出LTE/LTE-Advanced多通道PXI測試解決方案，可加速多通道測試系統配置，讓工程師能更深入瞭解複雜的載波聚合和空間多工多重輸入輸出(MIMO)設計。
安捷倫(Agilent)近日宣布推出LTE/LTE-Advanced多通道PXI測試解決方案，可加速多通道測試系統配置，讓工程師能更深入瞭解複雜的載波聚合和空間多工多重輸入輸出(MIMO)設計。
新的測試解決方案提供高效能工具，以協助工程師產生複雜的LTE/LTE-A多通道/MIMO波形，並同時在頻域和調變域中進行多通道分析，同時提供簡單易用的圖形操作介面，可縮短建立測試配置的時間。此外，其量測設定可將LTE/LTE-Advanced MIMO和載波聚合配置最佳化。
該測試解決方案的機箱背板觸發工具可用來配置和路由背板觸發器，以便讓多達兩個PXIe機箱的MIMO配置維持適當的時間同步。藉由使用Agilent M9381A射頻PXIe向量信號產生器和M9391A PXIe向量信號分析儀，工程師可輕鬆測試時間同步的MIMO(2×2或4×4)。這些儀器提供小於0.38%的誤差向量振幅(EVM)，並且在通道間維持不到20奈秒(nsec)的時間同步。另一方面，高達160MHz的信號產生和分析頻寬可支援最寬的LTE-Advanced載波聚合應用。
安捷倫網址：www.agilent.com