安立知(Anritsu)與Y.I.C. Technologies合作開發創新工具，支援業界廠商預先執行電磁相容性(EMC)測量。安立知的新型Field Master頻譜分析儀具有一流的掃描速度和連接介面，能與Y.I.C. EMScanners和EMViewer應用軟體相輔相成，提供完全整合的解決方案。
開發先進電子產品的設計工程師面臨著許多來自高速數據電路和射頻(RF)元件的EMC挑戰。高效的設計流程需要盡早瞭解電路的EMC性能。Y.I.C.的掃描儀和EMViewer軟體搭配安立知的頻譜分析儀，可提供所有輻射訊號的獨特三維(3D)熱圖；在提交產品給認證測試機構之前，可以先對電路布局和屏蔽材料進行最佳化，進而最大限度地提高首次通過的機率，減少重覆提交。
Y.I.C. Technologies全球業務與通路經理Cornelle Roberts表示，該公司旨在幫助工程師縮短排除EMC挑戰的時間，其解決方案現可相容於安立知Field Master頻譜分析儀，透過與安立知相容的解決方案，共同提供了一種獨特的方式來審視設計，並讓工程師有機會在近場修復所有問題，這將確保在電波暗室中一次性通過測試。
安立知頻譜分析儀產品經理Angus Robinson表示，EMC測試是測試產業市場日益重要的一部分，而EMScanner和EMViewer產品為共同的客戶提供了前所未有的深度見解和速度。