愛德萬測試(Adventest)發表全新記憶體測試系統T5833，新系統同時支援DRAM與NAND快閃記憶體元件的Wafer Sort及Final Test，可滿足低成本大量測試需求。
愛德萬測試(Adventest)發表全新記憶體測試系統T5833，新系統同時支援DRAM與NAND快閃記憶體元件的Wafer Sort及Final Test，可滿足低成本大量測試需求。
愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁山田弘益表示，T5833既具有業界首屈一指的效能，又兼顧了客戶的低測試成本考量，這兩大優勢將有助於客戶獲致最大投資效益！
隨著行動電子產品銷售量攀升，主要搭載於智慧型手機及平板電腦的DRAM、NAND快閃記憶體與多晶片封裝記憶體(MCP)正快速朝向提升速度與容量發展，這個趨勢也同樣顯見於網路和雲端伺服器市場。然而，記憶體元件種類繁多，測試成本是一大負擔，因此晶片製造商亟需一套具備先進功能、高效能，並兼顧低測試成本的解決方案。愛德萬測試全新多功能T5833記憶體測試系統，為所有記憶體元件(從LPDDR3-DRAM、高速NAND快閃記憶體，到新一代非揮發性記憶體IC全部涵蓋)提供Wafer Sort 與Final Test功能，可充分滿足上述需求。
T5833系統提供高速失效位置儲存分析功能與失效分析功能(又稱記憶體備援功能)，是晶圓測試不可或缺的測試功能，其快速的執行速度將有助加快測試、修復更多IC並提升良率。此外，這兩項功能皆可依照需求加以調整，譬如增加CPU以提高運算速度。
愛德萬測試網址:www.advantest.com