羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz, R&S)為待測片上元件的全面射頻性能特性分析提供測試解決方案，該解決方案結合R&S ZNA向量網路分析儀(VNA)和福達電子(FormFactor)的工程探針系統。半導體製造商可以在開發階段、產品認證和生產過程中執行可靠且可重複的片上元件特性分析。
5G射頻(RF)前端設計師需要確保RF能夠滿足頻率覆蓋和輸出功率，同時優化能效。其中一個重要階段是RF設計調查。對環境中的待測元件(DUT)進行特性分析時需要測量系統，該測量系統包括向量網路分析儀、探針台、RF探針、電纜或適配器、專用校準方法以及用於特定DUT或應用的校準基板。
為了滿足這些測量要求，R&S提供ZNA向量網路分析儀，該分析儀可分析同軸和波導級的所有RF參數，以及用於67GHz以上應用範圍的頻率擴展器。FormFactor通過手動、半自動和全自動探針系統解決晶圓接觸問題，包括熱控制、高頻探針、探針定位器和校準工具。R&S ZNA在內的整個測試系統的校準完全受FormFactor WinCal XE校準軟體支援。
此外，通用S參數測試可以分析濾波器和有源器件特性，也可以執行失真、增益和交調測試對功率放大器進行驗證。該聯合解決方案還支援針對混頻器的頻率轉換測量，其相位特性涵蓋元件的整個頻寬。R&S的頻率擴展器開闢了D波段等亞太赫茲頻率，是目前6G研究的重點。