安捷倫(Agilent)將於4月10日假新竹喜來登大飯店舉辦2012元件測試與應用技術論壇，邀集學術先進、多家知名量測設備領導供應商，與安捷倫國內外的專家們共同主講八個講題，並安排八個不同主題的實機展示，以饗顧客。
安捷倫(Agilent)將於4月10日假新竹喜來登大飯店舉辦2012元件測試與應用技術論壇，邀集學術先進、多家知名量測設備領導供應商，與安捷倫國內外的專家們共同主講八個講題，並安排八個不同主題的實機展示，以饗顧客。
安捷倫本年度元件與測試應用技術論壇將邀請成大電機所的莊惠如教授主講MM-wave Life-Detection System (MLDS) and Related Radio-on-Chip (RoC) Development；與中山大學電洪子聖教授主講 Green Radios for Cognitive Sensors and Doppler Radars。同時，還有以產業關注的主動與背動元件的測試挑戰、直流電(DC)及射頻(RF)參數量測、如何降低雜訊影響完成更精確的RF/uW 訊號量測、低頻至高達500GHz的On-wafer量測及探針方案、高速連接介面之信號完整性量測方案， 1/f on-wafer量測及元件建模解決方案等。
此外，安捷倫亦將推出實機展示，包含 無線通訊信號分析、EEsof EDA及模組式量測方案、元件量測及系統組件 、高速數位量測、康思德精密科技的晶圓探測先進技術、思達的半導體及功率元件參數量測，以及各種工程師需求的綜合量測方案。
安捷倫網址：www.agilent.com