安捷倫(Agilent)宣布推出低價位通用序列匯流排(USB)2.0訊號品質測試選項，適用於InfiniiVision 4000 X系列示波器，支援低速、全速和高速的USB2.0應用。
安捷倫(Agilent)宣布推出低價位通用序列匯流排(USB)2.0訊號品質測試選項，適用於InfiniiVision 4000 X系列示波器，支援低速、全速和高速的USB2.0應用。
由於嵌入式電子產品工程師一般不會進行正式的 USB-IF 認證測試，因為非個人電腦(PC)產品通常不需要USB-IF認證。但為了確保可靠性，嵌入式系統設計人員經常會根據USB-IF標準測試設計的實體層，作為一項實際驗證測試，在量產前確保設計的訊號品質符合標準。安捷倫新發佈的 USB 2.0 信號品質測試選項提供了一個低價位的測試解決方案。
借助Agilent USB 2.0訊號品質測試選項和InfiniiVision 4000 X系列示波器，工程師可以獲得一個經濟的解決方案，以執行重要的信號品質實體層測試，確保最終產品可以通過 USB-IF 工作組的認證測試。
USB 2.0信號品質測試選項採用的是正式的USB-IF演算法，可生成HTML 合格/不合格報告，包括眼圖波罩測試、抖動分析、封包結束位元寬度、信令速率、邊緣單調性和上升/下降時間。
安捷倫網址：www.agilent.com