愛德萬測試(Advantest)全新發表專為高效能通用快閃儲存(UFS)元件與PCIe BGA固態硬碟(SSD)所設計的低成本測試解決方案T5851系統，將可滿足智慧型手機、平板電腦、超可攜式產品等低功耗、行動應用市場對於記憶體IC的強勁需求。
愛德萬測試(Advantest)全新發表專為高效能通用快閃儲存(UFS)元件與PCIe BGA固態硬碟(SSD)所設計的低成本測試解決方案T5851系統，將可滿足智慧型手機、平板電腦、超可攜式產品等低功耗、行動應用市場對於記憶體IC的強勁需求。
愛德萬測試執行董事山田弘益表示，低功耗行動電子產品的趨勢，帶動了高階儲存解決方案的需求，由於這些儲存產品採用高速省電的序列介面與高效能儲存協定，記憶體IC製造商需要與過去不同等級的測試系統，不但要專為這類元件的系統層級測試製程所設計，還須兼具一般記憶體測試系統所擁有的可靠性、低成本、支援大量測試的能力，而這些要求，T5851全都能滿足。
T5851測試系統分別提供了量產機型與工程開發機型，讓客戶可隨需彈性運用於可靠性測試、品質檢驗測試、測試程式開發測試等用途，也能在搭載自動化元件分類機(如愛德萬測試的M6242分類機)的架構下，應用於量產環境。T5851是一套完全整合式的系統層級測試解決方案，不僅提供多種協定支援，且具備tester-per-DUT架構與專有的硬體加速器，使測試時間領先業界。
愛德萬網址:www.advantest.com