安捷倫發表DDR2、DDR3 BGA探量解決方案

2008-05-13
安捷倫(Agilent)發表首創的DDR2與DDR3 BGA(Ball-grid Array)探棒,可搭配示波器和邏輯分析儀使用。其新推出的DDR BGA探棒可直接探量到DRAM的錫球,不但負載低,且對訊號完整性的影響也很小。這些新的探棒可搭配示波器和邏輯分析儀使用,進行實體層測試與功能測試。  
安捷倫(Agilent)發表首創的DDR2與DDR3 BGA(Ball-grid Array)探棒,可搭配示波器和邏輯分析儀使用。其新推出的DDR BGA探棒可直接探量到DRAM的錫球,不但負載低,且對訊號完整性的影響也很小。這些新的探棒可搭配示波器和邏輯分析儀使用,進行實體層測試與功能測試。  

Agilent DDR2和DDR3 BGA探棒可透過示波器,提供DDR3 DRAM的時脈、Strobe、資料、位址,以及命令等訊號的探量點,以執行正確的相容性驗證測試。透過邏輯分析儀,則可檢視DRAM的時序與通訊協定動作狀況。新DDR2 BGA探棒可同時接到示波器和邏輯分析儀,進行完整相容性與通訊協定驗證測試。  

安捷倫數位測試事業部的副總裁暨總經理Sigi Gross表示,工程師需要具有優異的訊號完整性效能,以及通訊協定驗證能力的量測工具,才能量測各種記憶體匯流排,而DDR2和DDR3的BGA探棒轉接器正可滿足工程師的需求。其已備妥所需的工具,包括最近推出的DDR3測試應用軟體,可協助工程師快速又容易地驗證設計結果。  

DDR3 BGA探棒支援多種不同封裝方式:W2635A x8 BGA探棒可探量x4和x8的DRAM封裝;W2636A x16 BGA探棒轉接器則可探量x16的DRAM封裝。每一款都可提供10毫米和11毫米兩種不同寬度,以滿足不同DRAM晶片的不同間距要求。  

安捷倫網址:www.agilent.com.tw

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