安捷倫科技(Agilent)宣布，旗下的掃描微波顯微鏡模式(SMM模式）已入選2009 Prism獎10大得獎者名單，評審係由SPIE及Laurin Publishing的Photonics Spectra雜誌顧問團所組成。
安捷倫科技(Agilent)宣布，旗下的掃描微波顯微鏡模式(SMM模式）已入選2009 Prism獎10大得獎者名單，評審係由SPIE及Laurin Publishing的Photonics Spectra雜誌顧問團所組成。
SMM模式在SPIE Photonics West研討會的一場特殊典禮中，正式被表揚為分析、測試與量測類的傑出光通訊創新技術，SMM模式先前已獲獨立評審團和R&D Magazine編輯群，提名R&D100獎。安捷倫開發SMM模式，利用受歡迎的Agilent 5420和Agilent 5600LS原子力顯微鏡，來提供高解析、量化的電磁材料特性描述能力。
台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示，很榮幸我們的SMM模式，能同時獲得R&D100和Prism獎提名。這項獨特的技術結合微波向量網路分析儀經過校驗的電氣量測功能，以及原子力顯微鏡(AFM)的奈米級空間解析度(nanoscale spatial resolution)，為半導體材料的評估及生物和材料研究應用提供了一款先進的工具。
安捷倫科技網址：www.agilent.com