凌華科技(Adlink)於2016年6月16日假台北矽谷國際會議中心2B會議廳，舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」，偕同致茂電子(Chroma)與能高電子(OpenATE)分享最新量測趨勢與應用，掌握工業物聯網與電子量測關鍵技術，全面破解降低測試成本與提高測試效能之道，以加速產品開發及專案時程。
凌華科技(Adlink)於2016年6月16日假台北矽谷國際會議中心2B會議廳，舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」，偕同致茂電子(Chroma)與能高電子(OpenATE)分享最新量測趨勢與應用，掌握工業物聯網與電子量測關鍵技術，全面破解降低測試成本與提高測試效能之道，以加速產品開發及專案時程。
研討會內容介紹PXI模組化儀器產品在高速高精度訊號量測應用，包括多媒體裝置的音頻檢測方案、高效率電子元件測試解決方案、與振動量測應用於自動化廠房機台故障預測；再從PXI架構談多測試項目的整合與自動化，以及如何運用PXI來實現高速與高精度的電源供應和測量，最後再談PXI於半導體測試之應用等。
除了分享量測的關鍵技術與趨勢之外，現場多達七套動態實機展示，使與會者將更清楚地了解實際的量測應用。展示內容包含：半導體檢測、麥克風陣列噪音源定位系統、機械故障預測、與多媒體音頻測試等。以麥克風陣列噪音源定位系統為例，其廣泛應用於汽車、家電、軍工等諸多行業領域中的研發、生產、測試等階段，其中汽車行業應用猶多。
凌華科技智動化量測關鍵技術研討會活動資訊：http://www.digitimes.com.tw/seminar/Adlink_20160616/index.asp
凌華科技網址:www.adlinktech.com/big5/