Advantest 愛德萬測試

愛德萬推出巨量儲存裝置測試方案

2013-10-09
愛德萬測試(Advantest)推出全新測試設備--T2000 8GWGD,其提供結合每秒採樣速率達八千兆(Gsps)的波形產生器和8GHz數位器之模組,可應用於HDD硬碟等巨量儲存裝置中的系統單晶片(SoC)測試。
愛德萬測試(Advantest)推出全新測試設備--T2000 8GWGD,其提供結合每秒採樣速率達八千兆(Gsps)的波形產生器和8GHz數位器之模組,可應用於HDD硬碟等巨量儲存裝置中的系統單晶片(SoC)測試。

愛德萬測試SoC事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示,面對一日千里的雲端運算市場,客戶可透過這套全新測試機台駕馭雲端運算數十億顆硬碟、全球無可計數的伺服器陣列。

T2000測試機台可處理儲存巨量資料的SoC其內部高速SerDes實體層(PHY)介面與複雜高速的類比波形挑戰。透過這些功能,客戶將能測試高速數位轉類比轉換器和前置放大器,及高速數位介面和鎖相迴路(PLL)設備。

愛德萬測試網址:www.advantest.com

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